Průtokové analyzátory kapalných vzorků FUTURA nabízejí ideální řešení velkého počtu aplikací v souladu s nejvíce užívanými mezinárodními normami. Skutečně plná automatizace analýz je optimalizována krok po kroku pro dosažení nejlepších
Automatický analýzátor termicko-oxidační stability leteckého paliva
LP 3000 - 400 kN je volně stojící hydraulický laboratorní lis s jediným pracovním prostorem. Všechny lisy MonTech LP 3000 jsou vybaveny uzavřeným okruhem, integrovaným nízkohlučným hydraulickým systémem, který vyžaduje
Vysoce výkonný hydraulický laboratorní lis pro rutinní lisovací aplikace. LP 600kN je vysokokapacitní hydraulický laboratorní lis pro vysoce výkonné vytvrzování a přípravu vzorků pryže. Tento model je schopen vyvinout lisovací
Měřicí systém kontaktního úhlu OCA 15PRO je založený na záznamu videa. Sytém OCA 15PRO je základem profesionálních systémů na určení povrchové energie pevných látek, měření kontaktního úhlu a analýzu tvaru
OCA 15EC je nejvhodnější přístroj pro aplikace vyžadující vyhodnocení kontaktního úhlu a tvaru kapky na základě záznamu videa a jeho analýzy s omezenými prostředky na pořízení přístroje. OCA 15EC lze
Tenziometr DCAT 9 je základním modelem pro měření povrchového a mezifázového napětí a hustoty kapalin a pevných látek na základě hmotnosti. Pro měření vlastností závislých na teplotě je DCAT 9T
DCAT 15 lze použít ke stanovení dynamických kontaktních úhlů, povrchové energie pevných látek nebo sedimentačních a penetračních vlastností,, protože oproti modelům DCAT 9 a DCAT 9T model DCAT 15 umožňuje
Ruční přístroj pro monitorování prachu a aerosolů v reálném čase je ideální pro krátkodobé kontroly procházením sledovaných prostor. S ergonomickým designem pro přenosnost a snadnost použití přinášejí přístroje Casella spolehlivé
Speciální variantou modelu OCA 15EC pro optické měření kontaktního úhlu je model OCA 15LJ. Tento model je navržen pro systém DataPhysics Instruments Liquid Jet. Díky tomuto systému možné analyzovat několik
Modely pro optické měření kontaktního úhlu OCA 50 a OCA 50EC jsou plně automatická zařízení pro měření kontaktního úhlu, smáčivosti povrchů a pro stanovení povrchové energie pevných látek. Součástí modelů
Tento model je vhodný pro analýzu mikrostrukturovaných vzorků. Má k dispozici systém dávkování nanolitrů, který může generovat malé kapičky až 10 nanolitrů a pomocí dávkovacího systému picoliter PDDS, který může
dpiMAX – komplexní software pro přístroje na měření kontaktních úhlů ze série OCA od společnosti DataPhysics. Díky novému softwaru dpiMAX je měření pomocí systémů OCA jednodušší a pohodlnější než kdykoli
Model pro optické měření kontaktního úhlu OCA 25 je univerzální zařízení pro měření kontaktního úhlu a tvaru kapky. Tento model je za pomoci teplotních komor schopen měřit i za vysokých
Software DCAT určený pro operační systém Microsoft Windows®. Moderní uživatelské rozhraní umožňuje jak tradiční ovládání pomocí myši a klávesnice tak i pomocí dotykových obrazovce. Komplexní integrovaná funkce nápovědy zahrnuje vysvětlení
Tenziometr DCAT 25 je multifunkční všestranný přístroj řady DCAT. Systém vážení je ještě přesnější než u systémů DCAT 9 aDCAT 15, a proto nabízí nejvyšší přesnost při určování povrchového a
Tenziometr s rotující kapkou SVT 25 je kompaktní optický měřicí přístroj pro stanovení nízkého až ultra nízkého mezifázového napětí na základě obrysu rotujících kapek podle modelů Vonneguta, Cayias-Schechter-Wade nebo Young-Laplace.
Software SVTS je určený pro operační systém Microsoft Windows®. Software SVTS je určen k ovládání tenziometrů s rotační kapkou SVT 25. Tento software slouží k jeho ovládaní a vyhodnocení měření.
NaioAFM je ideální mikroskop atomárních sil pro nanoedukaci a základní výzkum na malých vzorcích. Tento all-in-one AFM systém poskytuje solidní výkon a snadnou manipulaci s velmi příznivou cenovkou a půdorysem.
Nanosurf LensAFM je mikroskop atomárních sil, který pokračuje tam, kde optické mikroskopy a profilometry dosahují svých mezních rozlišovacích schopností. Je namontován jako normální objektiv, čímž se rozšiřuje rozlišení a měřicí
Morfologie povrchu je důležitou vlastností materiálů s vysoce kvalitními a technicky pokročilými povrchy, které mohou klesnout na několik nanometrů a drsnost povrchu pod nanometr. S funkcí AFM lze tyto vlastnosti
